荧光芯片全景扫描分析(面积)
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荧光芯片全景扫描分析(面积)

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¥ 200

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  • 品牌名称: 博尔夫生物

服务介绍

用于荧光芯片扫描分析,统计阳性面积相关参数,包含:平均光密度值、阳性面积比、阳性面密度。一次分析即可获取该指标阳性面积相关参数的三个数值。以上相关参数均可用于评价阳性强弱多少。

1.平均光密度值=IOD/阳性像素面积。反映阳性信号的平均深浅,用阳性深浅评价阳性强弱。适用于阳性成片且广泛表达的情况。

2.阳性面积比=阳性面积/组织面积。反映阳性面积的多少,适用于阳性成片且广泛表达的情况。

3.阳性面密度=IOD/组织像素面积。反映待测量组织区域内阳性的平均深浅,适用于组织上阳性成片表达且分布不均匀的情况。

 

注意事项:提供芯片扫描文件,默认分析整张扫描文件,如有特殊部位及分析要求,请提前告知。

 

软件名称

厂家

型号

扫描浏览软件

3DHISTECHHungary

CaseViewer2.4

分析软件

3DHISTECHHungary

Quant Center2.3

统计软件

IBMU.S.A

SPSS v20

绘图软件

GraphPad SoftwareU.S.A

GraphPad Prism 5

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